RTL 設計師面試攻略 (芯片從設計到交付的全流程)
孫健//魏東
- 出版商: 科學出版
- 出版日期: 2026-01-01
- 售價: $408
- 語言: 簡體中文
- ISBN: 7030838211
- ISBN-13: 9787030838216
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相關分類:
VLSI
- 此書翻譯自: Crack the Hardware Interview - from RTL Designers' Perspective: Architecture and Micro-architecture Design
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商品描述
本書從RTL設計師視角出發,系統梳理 ASIC/VLSI行業標準工作流程中的關鍵知識與面試 要點,通過分享行業經驗與獨特視角,幫助讀者理 解企業所需技能,提升面試競爭力,斬獲心儀職位 。全書分為三大部分: 部分圍繞架構與微架構 展開,涵蓋CPU流水線、CPU亂序調度、虛擬內存和 TLB、緩存一致性、FIFO、CDC、LRU算法、重排序 、仲裁器、數字分頻器、算術邏輯設計、序列產生 器等;第二部分聚焦驗證、實現、綜合與功耗,詳 細講解設計驗證、形式驗證、CDC檢查、RDC檢查、 ECO流程等;第三部分涉及物理設計和芯片調試,包 括STA、SDC、時序ECO等;同時在末尾分享行為類 問題及實用面試建議等。
