高密度多層電路版技術
林振華、林振富
- 出版商: 全華圖書
- 出版日期: 2001-08-03
- 定價: $250
- 售價: 9.0 折 $225
- 語言: 繁體中文
- ISBN: 9572133063
- ISBN-13: 9789572133064
已絕版
買這商品的人也買了...
-
$580$458 -
$680$537 -
$980$774 -
$690$587 -
$650$553 -
$590$466 -
$690$538 -
$780$616 -
$720$569 -
$690$587 -
$990$782 -
$750$675 -
$490$382 -
$560$504 -
$850$723 -
$490$417 -
$480$379 -
$750$593 -
$780$616 -
$580$493 -
$690Microsoft Exchange Server 2003 (Paperback)
-
$675LPIC 1 Exam Cram 2: Linux Professional Institute Certification Exams 101 and 102 (Paperback)
-
$660$521 -
$2,340$2,223 -
$490$387
相關主題
商品描述
■ 內容簡介 本書對於增層電路板的製程及材料均有介紹,內容淺顯易懂,除了可作為了解現在增層電路板的概況,亦可作為設計時之參考。適用於一般電子工程師及大專院校理工系的學生!其內容有介紹高密度多層電路板使用之相關材料特性、製程以及市場概況,是一本技術入門的好書! ■ 目錄 第1章 增層電路板 1.1 什麼是增層電路板1-2 1.2 增層電路板的結構1-3 1.3 增層電路板的發展歷史1-6 1.3.1 解決電路板密度的問題1-6 1.3.2 SLC開發計畫1-6 1.3.3 裸晶封裝計畫的歷史1-7 1.4 增層電路板適用的產品1-10 1.4.1 微處理器模組1-10 1.4.2 漢字辨識卡1-12 1.4.3 符號環(token-ring LAN)區域網路卡1-16 1.4.4 無線數據機PC卡1-18 1.4.5 工作站擴充卡1-19 1.4.6 3D圖形加速卡1-21 1.4.7 單晶片BGA1-21 1.4.8 PC的多晶模組封裝1-22 第2章 裸晶的封裝技術 2.1 1600對300的覆晶封裝(Flip Chip)2-2 2.1.1 接點數目的比較2-2 2.1.2 電性的比較2-4 2.2 覆晶式封裝的設計重點2-4 2.2.1 晶片和基板的變形2-4 2.2.2 接合部份壽命的改善2-7 2.3 樹酯封膠2-8 2.3.1 沒有樹酯封膠固定的基板壽命2-8 2.3.2 樹酯封膠固定的壽命2-10 2.3.3 歷史實驗2-11 2.4 樹酯封膠的覆晶式封裝結構2-13 2.4.1 半導體晶片製程2-13 2.4.2 利用樹酯封膠減少變形位移量2-16 2.5 金凸塊2-16 2.5.1 打線封裝到覆晶式封裝的設計2-16 2.5.2 利用電鍍金形成凸塊2-17 2.6 封裝技術2-20 2.6.1 樹酯封膠的覆晶式封裝2-20 第3章 增層電路板的設計 3.1 設計準則3-2 3.1.1 層間絕緣層厚度3-2 3.1.2 特性阻抗50Ω3-3 3.2 裸晶的承載3-4 3.3 何謂QM?3-6 3.3.1 QM的項目3-6 3.3.2 QM基板的結構3-8 3.4 雜 訊3-15 3.4.1 開關雜訊的比較3-15 3.4.2 封裝尺寸越小雜訊越小3-16 3.5 時脈頻率可以高達GHz3-18 3.5.1 時脈速度的改善3-18 3.5.2 裸晶封裝與BGA的比較3-19 第4章 增層電路板的構成材料 4.1 剝離強度(peel strength)4-2 4.1.1 電鍍銅的剝離強度4-2 4.1.2 可靠性實驗4-2 4.2 其他要求特性4-4 4.2.1 燃燒實驗4-4 4.2.2 特性的取捨4-6 4.3 增層層的光蝕刻製程4-6 第5章 增層電路板製程 5.1 雷射鑽孔和機械鑽孔5-2 5.1.1 基本製程步驟5-2 5.1.2 光蝕刻製程的選擇5-4 5.1.3 簾幕式(curtain coater)絕緣層塗佈方式5-4 5.2 不完全栓孔的成因5-10 5.2.1 正確栓孔的形成5-10 5.2.2 栓孔凸塊的形成5-12 5.3 積 層5-16 5.3.1 多層化需注意的問題點5-16 5.3.2 選擇最佳製程條件5-17 5.4 形成線路5-18 5.4.1 利用電鍍形成細導線5-18 5.4.2 細導線的錨定狀態5-19 5.5 基 層5-21 第6章 增層電路板的檢查 6.1 檢查增層電路板6-2 6.2 不良品的原因6-3 6.2.1 絕緣層厚度6-3 6.2.2 栓孔的檢查項目6-4 6.3 檢查方式的發展6-8 6.3.1 半導體製程的檢查方式6-8 6.3.2 圖形辨識檢查設備6-9 6.4 製程監控6-10 6.4.1 製程監控的問題點6-10 6.4.2 提昇品質標準6-11 第7章 增層電路板的可靠性 7.1 裸晶封裝7-2 7.1.1 故障模式7-2 7.1.2 封裝時晶片的破壞7-5 7.2 樹酯接合部份的壽命7-6 7.2.1 壽命實驗7-6 7.2.2實驗結果分析7-7 7.3 電路板的故障原因7-13 7.3.1 銅離子遷移7-13 7.3.2 裂口的產生7-15 7.3.3 裂口的影響7-16 7.4 加速實驗的順序7-18 7.4.1 熱循環加速實驗7-19 7.5 使用環境的壽命預測7-22 7.5.1 實際使用壽命的預測7-22 7.5.2 溫度/濕度/偏壓的加速實驗7-24 7.5.3 高溫加速實驗7-26 第8章 使用增層電路板的BGA基板 8.1 何謂BGA8-2 8.2 複雜的應力狀態8-2 8.3 BGA製程8-9 8.4 封裝的可靠性8-13 第9章 日本增層電路板發展現況 9.1 技術分類9-2 9.1.1 依結構分類9-2 9.1.2 依製程分類9-2 9.1.3 依栓孔下孔形成方式分類9-3 9.1.4 依栓孔形成方式分類9-3 9.1.5 依絕緣層形成方式分類9-3 9.1.6 依線路形成方式分類9-4 9.2 日本各廠家的技術特徵9-4 9.3 製程控制重點9-11 9.4 應用時必須注意的重點9-12 9.4.1 使用增層電路板的重點9-13 9.4.2 實例介紹9-14 第10章 多晶片模組封裝(MCM) 10.1 MCM的歷史10-2 10.2 MCM封裝時的尺寸變化10-9 10.3 晶片的品質問題10-13 10.4 新封裝技術的時代10-18 參考文獻 |