深入淺出SSD測試 固態存儲測試流程 方法與工具

阿倫

  • 出版商: 機械工業
  • 出版日期: 2025-06-01
  • 售價: $594
  • 語言: 簡體中文
  • 頁數: 352
  • ISBN: 7111780604
  • ISBN-13: 9787111780601
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商品描述

這是一本涵蓋了基礎知識、原理、工具、全流程(從產品立項到生命周期維護)測試管理方法、行業發展趨勢、創新技術等所有從事SSD測試知識的專業指導書。這是繼《深入淺出SSD》之後,由《深入淺出SSD》部分核心作者聯合SSD測試專家撰寫的又一部經典之作。本書延續了“深入淺出SSD”系列圖書的行文風格,內容從淺入深,講解透徹,目的是幫助讀者快速建立SSD測試知識體系,可以獨立針對SSD測試項目或者難題制定解決方案。本書不僅可以作為SSD測試入門書,還可以作為置於案頭隨時供查閱的工具書。

無論是存儲方向的入門者、在校學生、愛好者,還是從事SSD及存儲系統研發或測試工作的專業技術人員,都可以通過閱讀本書獲得想要的知識,提升自身能力,解決工作中的問題。

本書的主要內容如下。

SSD測試概述(第1章),介紹SSD和SSD測試相關的基礎知識,包括什麽是SSD測試、SSD測試的目的和重要性、對SSD測試從業者和團隊的基本要求等重點內容。

SSD產品測試(第2~5章),首先基於立項、計劃、設計與開發、執行、總結這幾個階段介紹SSD測試的主要工作內容及對應實現方法,然後分享SSD測試的分類以及不同類型測試的設計與實現方法,最後解讀SSD的通用測試平臺、測試軟件和專業測試平臺。

主控芯片測試(第6章),剖析用於主控芯片測試的主要軟硬件平臺,及在對應平臺上進行主控芯片測試的方法。

閃存測試(第7章),深入分析閃存的失效模式,以及閃存測試的主要方法。

測試認證(第8章),完整解讀業界主要的SSD認證測試項目,包括PCI-SIG、UNH-IOL、WHQL以及國內測試標準等。

儀器與設備(第9章),重點介紹用於SSD測試的儀器設備,包括RDT可靠性測試設備、協議分析儀等。

作者簡介

阿倫
就職於 存儲企業,具有10餘年SSD測試經驗,對SSD的測試設計、開發和管理具有深入理解, 或參與過多個大型項目的研發管理和實踐工作。
攻城獅《深入淺出SSD:固態存儲核心技術、原理與實戰》作者,SSDFans聯合創始人, SSD研發和測試專家。儲鶴畢業於東南大學,20年閃存行業的研發和測試經驗,在Flas 件系統和SSD固件的開發方面經驗尤其豐富。曾就職於Intel、美光等知名企業,均從事存儲相關研發工作。近年來,聚焦於NVMe SSD測試工具的研發,並創立了GYTech公司。GYTech公司自主開發的PyNVMe3測試軟件現已成為 的解決方案,可為 SSD生產商提供高效、可靠的測試平臺和技術支持。
胡波
畢業於華中科技大學控制系,在固態存儲行業從業近20年,現就職於Solidigm,從事企業級SSD相關工作,曾就職於美光、戴爾、聯蕓等,負責研發、PM、市場、銷售、質量、AE/FAE等工作,涉及的產品有NAND、DRAM、SSD、UFS、控制器等。業餘時間熱衷寫作和分享交流,希望為推動 固態存儲生態和技術發展貢獻自己的力量。大毛 某存儲企業研發工程師,有10餘年SSD、eMMC、UFS領域的固件開發及測試經驗。對SSD產品的測試組織、質量管理、自動化工具等有較深入的理解和研究,目前仍活躍於測試一線。

目錄大綱

讚譽

推薦序一

推薦序二

推薦序三

前言

致謝

第1章 SSD測試概覽 1

1.1 SSD概述 1

1.1.1 SSD的基礎知識 1

1.1.2 SSD的分類 5

1.1.3 SSD的發展趨勢 6

1.2 SSD測試概覽 10

1.2.1 SSD測試是什麽 10

1.2.2 SSD測試的目的和重要性 11

1.2.3 SSD測試中的VU命令 12

1.2.4 SSD測試工程師的基本素養 14

1.2.5 測試團隊的職能定位 19

1.2.6 SSD測試總結 22

第2章 SSD測試流程 23

2.1 測試立項階段 24

2.1.1 BRD 24

2.1.2 MRD 27

2.1.3 PRD 31

2.2 測試計劃階段 40

2.2.1 測試需求分析 40

2.2.2 測試資源的準備 45

2.3 測試設計與開發階段 58

2.3.1 測試用例與腳本的區別 58

2.3.2 測試用例設計 60

2.3.3 測試標準制定 63

2.3.4 腳本開發 71

2.3.5 測試工具開發 71

2.3.6 測試驅動開發 73

2.3.7 測試自動化開發 74

2.4 測試執行階段 74

2.4.1 測試平臺搭建 75

2.4.2 測試用例執行 80

2.4.3 測試缺陷管理 80

2.5 測試總結階段 82

2.5.1 測試結果評審 82

2.5.2 遺留問題的跟蹤與閉環 86

第3章 SSD測試管理 88

3.1 測試與固件的分工與合作 88

3.1.1 明確角色和責任 89

3.1.2 建立溝通機制 90

3.1.3 串講與反串講 92

3.1.4 測試標準意見一致 93

3.1.5 測試如何協同固件進行

問題定位 93

3.1.6 客訴問題的處理 96

3.2 測試自動化 98

3.2.1 測試自動化的意義 98

3.2.2 測試平臺管理 98

3.2.3 測試SSD盤片管理 100

3.2.4 測試資源自動化調度 101

3.2.5 測試問題單管理 102

3.2.6 持續集成自動化 103

3.3 生命周期維護管理 105

3.3.1 常見RMA失效模式 106

3.3.2 生命周期維護階段的

測試工作 107

第4章 SSD測試分類、設計與

實現 109

4.1 SSD測試的分類 109

4.1.1 SSD白盒測試與黑盒測試 109

4.1.2 項目不同階段的SSD測試 109

4.1.3 按照測試內容分類 112

4.2 SSD測試的設計與實現 116

4.2.1 SSD協議符合性測試與

認證測試 116

4.2.2 SSD功能測試 119

4.2.3 SSD上下電測試 127

4.2.4 SSD性能測試 129

4.2.5 SSD兼容性測試 132

4.2.6 SSD壓力測試 133

4.2.7 SSD功耗測試 135

4.2.8 SSD可靠性與數據保持

測試 136

4.3 SSD生產階段的測試 137

4.3.1 SSD生產階段測試的內容 137

4.3.2 SSD生產階段測試的流程 138

4.3.3 SSD生產階段測試的監控 139

4.3.4 SSD生產階段測試的工具與

平臺 141

4.3.5 SSD生產階段測試與研發階段

測試的區別 142

4.4 SSD導入階段的測試 143

4.4.1 消費級OEM SSD導入測試和

廠商測試流程 143

4.4.2 企業級SSD產品導入測試和

廠商測試流程 146

4.4.3 案例1:大普微R6100 PCIe 

5.0 x4企業級SSD導入部分

測試 151

4.4.4 案例2:江波龍企業級SSD

廠商測試流程 153

4.5 SSD測試中的註意事項 158

4.5.1 針對SSD競品的測試 158

4.5.2 SSD測試的核心:

數據正確性 159

4.5.3 SSD測試的管理 160

4.6 SSD產品評測 161

4.7 案例:長江存儲消費級

PC41Q PCIe 4.0 x4 QLC SSD 163

4.7.1 X3-6070 QLC NAND 164

4.7.2 PC41Q PCIe 4.0 x4 QLC SSD 165

4.7.3 日常PC使用的存儲負載

分析 170

第5章 SSD測試工具和平臺 171

5.1 測試的硬件平臺 171

5.2 SSD測試軟件 172

5.2.1 CrystalDiskMark 173

5.2.2 f?io 175

5.2.3 PyNVMe3 179

5.2.4 測試軟件對比 181

5.3 專業測試平臺 182

5.3.1 研發測試和產品檢測 182

5.3.2 研發測試的需求 183

5.3.3 測試平臺介紹 185

5.3.4 專業測試平臺的設計 187

5.4 PyNVMe3腳本開發 191

5.4.1 平臺介紹 191

5.4.2 類和方法概述 195

5.4.3 驅動的特性 199

5.4.4 實例解析 204

第6章 主控芯片驗證 221

6.1 主控芯片驗證概述 221

6.2 矽前驗證 223

6.2.1 FPGA原型驗證 224

6.2.2 Emulator模擬加速器 226

6.2.3 硬件/軟件聯合模擬 227

6.3 矽後驗證 228

6.3.1 PVT測試 228

6.3.2 PCIe接口驗證 230

6.3.3 閃存接口驗證 236

6.3.4 LDPC解碼能力驗證 240

6.3.5 DDR驗證 243

6.3.6 電源軌及功耗驗證 246

6.4 DFT與ATE 248

6.4.1 DFT 248

6.4.2 ATE 252

第7章 閃存及其測試 254

7.1 閃存概述 254

7.1.1 閃存組織結構 254

7.1.2 3D閃存未來發展之路 259

7.1.3 3D閃存發展的未來挑戰 264

7.2 閃存失效模式 266

7.2.1 用戶使用角度的閃存失效

模式 266

7.2.2 內部角度的閃存失效模式 267

7.3 閃存測試 270

7.3.1 閃存芯片測試流程 271

7.3.2 閃存品質測試 275

7.3.3 閃存導入測試 282

7.3.4 閃存性能測試 290

7.3.5 閃存功耗測試 290

第8章 SSD相關測試認證 292

8.1 PCI-SIG合規性測試 292

8.1.1 物理層測試 293

8.1.2 協議測試 296

8.1.3 互操作測試 298

8.2 UNH-IOL的NVMe認證測試 299

8.3 WHQL測試與認證 300

8.3.1 WHCK與WHLK 300

8.3.2 WHLK測試平臺架構 302

8.3.3 WHLK部署方案 302

8.3.4 WHLK搭建測試環境的步驟 303

8.4 雅典娜測試與認證 309

8.4.1 雅典娜計劃 309

8.4.2 關鍵測試指標 310

8.4.3 RVP測試平臺 310

8.4.4 測試內容舉例 311

8.5 Chromebook測試與認證 312

8.6 國密認證 312

8.6.1 認證依據 312

8.6.2 認證模式 313

8.6.3 認證單元劃分 313

8.6.4 認證實施 313

8.6.5 認證時限 316

8.6.6 認證證書 316

8.7 國內SSD測試標準 317

8.7.1 國家標準——

GB/T 36355—2018 317

8.7.2 行業標準 318

第9章 SSD測試儀器與設備 322

9.1 SSD RDT可靠性測試設備 322

9.1.1 SSD RDT可靠性測試內容 323

9.1.2 全球SSD RDT可靠性設備

行業標桿——愛德萬MPT3000EV2 325

9.1.3 國產SSD RDT可靠性設備

標桿——德伽G6508P 329

9.1.4 SSD RDT可靠性測試設備——

鸞起Phoenix系列 338

9.2 SSD研發測試設備 339

9.3 PCIe協議分析儀和訓練器 344

9.3.1 PCIe協議分析儀和訓練器的

功能 344

9.3.2 力科PCIe協議分析儀和

訓練器 345

9.4 誤碼儀和示波器等高速設備 348

9.5 功耗電源測試設備 349